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3D INPUT DEVICE 3D DISPLAY NANO TECHNOLOGYCONTACT

系統架構與產品組成

主要規格 卓越性能 掃描影像 正確的量測理論 與大廠之比較
系統雜訊
Z軸影像解析度 掃描重複性 光槓桿訊號的均值性 系統的靈敏度
SPM-A-100性能分析
  本機器的系統雜訊,如下:  
分析項目 達成性能 實驗數據
即時Z軸高度之分佈值 < 0.2nm
圖1
即時振幅RMS電壓之分佈值 < 1.5mV 圖1
長時間Z軸高度之平均值(Mean) 0.175nm 圖2
長時間Z軸高度之偏差值(RMS) 0.041nm 圖2
:本機器所取之數據為單點取樣數據,非多次取樣之平均值。
  解析說明  

對於任何一台AFM機器,從其系統雜訊之大小(或稱為背景雜訊,即於不實際掃圖之狀況下,AFM所呈現出最基本的雜訊),即可一窺其性能之優略。當然,系統雜訊越小,意味著該機器可具有更佳的影像解析度。一般,於輕敲模式操作下,可由以下簡單之操作,取得系統雜訊。

選 項 說 明
操作模式 輕敲模式
探針振幅 最小
回授功能 關閉(即不實際下針掃樣品)
掃描範圍 任意大小(本次實驗為50x50um)
觀察紀錄 Z軸高度之分佈值及振幅RMS電壓之分佈值
1. 掃描中,Z軸高度及振幅RMS電壓之即時數據
2. 長時間掃描Z軸高度圖與統計分析